성원기술 2D 기술백서 [전체 보기]
2025.12.15 by swtec
성원기술 기술백서 목차 [2D, 3D가이드]
– Line Scan · Area Scan 표준 구조 –본 기술백서는 2D Line Scan / Area Scan 검사에서 발생하는 위치 오차, 트리거 불안정, 검사 편차 문제를 신호 타이밍 구조 관점에서 설명합니다. 2D 검사 품질의 핵심은 카메라 성능이나 조명 밝기가 아니라, 엔코더 · 트리거 · 조명이 같은 기준에서 동작하느냐에 있습니다. 👉 2D 머신비전 기술백서 전체 보기 [1강] 2D Line Scan 검사의 본질 -> https://swtec.tistory.com/80 1강. 2D Line Scan 검사의 본질왜 Line Scan에서는 “타이밍”이 전부일까?머신비전 검사에서 문제가 생기면 우리는 보통 이렇게 생각합니다.카메라 해상도가 부족한가?조명이 어두운가?렌즈가 안 맞는가?알고리즘이 ..
제품 기술 이야기/2D 기술 2025. 12. 15. 17:22
– 2D · 3D 검사 구조 전체 안내 – 🔍 기술백서 소개 본 기술백서는 머신비전 검사 현장에서 반복적으로 발생하는 위치 오차, 검사 불안정, 속도 변경 시 품질 저하 문제를 ‘설정’이나 ‘튜닝’이 아닌 신호 처리 구조 관점에서 설명하기 위해 작성되었습니다. 성원기술은 머신비전 검사를 2D 머신비전과 3D 머신비전이라는 서로 다른 기술 영역으로 명확히 구분하고, 각 영역에 맞는 기준 구조(Standard Architecture)를 제시합니다. 📘 2D 머신비전 기술백서Line Scan / Area Scan 기반 2D 검사 구조를 다루는 기술 문서입니다. • 다루는 주제 - 2D Line Scan 타이밍 문제 - PLC 기반 트리거 한계 - FPGA 기반 2D 트리거 구조 - 2D ..
제품 기술 이야기 2025. 12. 15. 17:11