FPGA 기반 머신비전 동기화 솔루션 전문기업.
2차전지·반도체·자동차 라인 검사의 트리거·조명·카메라를 정밀하게 제어합니다.
SeongWonTech · 2026
태거 / AI Metadata Insertion Platform
불량의 '이유'를 기록하는 AI 학습 마스터키.
이미지에 속도·전류·타이밍을 결합해
AI가 '발생 상황'까지 학습합니다.
불량의 '모양'만 학습하던 AI → '발생 이유'까지 학습하는 AI.
조명 전압 강하로 어둡게 찍힌 양품을 불량으로 학습 → 모델 정확도 급감.
촬영 당시의 '상황'을 함께 기록 → 오염 데이터 자동 분류.
6 Pixel TAG — 라인마다 갱신되는 물리 데이터 스냅샷.
촬영 위치 정보를 32bit 전체로 기록. 속도 변화에도 위치 추적.
센서·PLC 신호를 이미지에 직접 기록. 외부 신호 추적.
에러 상태 + 카메라 채널 + Hsync 누락 카운트 보존.
AI 학습 데이터 오염부터 트러블슈팅까지.
어둡게 찍힌 양품을 불량으로 학습 → 재학습 반복으로 모델 정확도 급감.
촬영 당시 속도·조명·신호 상태를 모르면 원인 분석에 1주일 이상 소요.
Hsync 누락 발생 시 흔적이 사라져 재현·검증 불가.
ETIO + NSync + Signal Scope 모든 기능을 하나로.
Zero Delay FPGA, Working Area, 절연 — 모든 기능 통합.
골든타임 90% Feed로 최적 구간만 촬상.
24/365 Raw 데이터 저장. 파형 즉각 가시화.
Camera Link 4ch 동시. PC Grabber 1·2 동시 연동.
장거리 신호 환경에서도 안정적 동기화 보장.
태그 데이터를 딥러닝 입력으로 직접 활용.
딥러닝 지도학습이 필요한 모든 검사 라인.
'모양' + '발생 상황' 동시 학습 → 정확도 급상승.
위치 태깅으로 불량 패턴 분석. 예지보전 연동.
조명·속도 태깅으로 불량 유출 원인 추적.
조명 강하 이미지 자동 분류 → 재학습 절감.
24h Raw 로깅. Industry 5.0 데이터 플랫폼.
검사 신뢰성 데이터 기록 → 리콜 사전 차단.
불량 이유를 아는 검사 시스템으로 전환.
발생 상황 학습으로 오판단 제거
1주일 → 평균 4시간
태그 기반 자동 분류
365일 Raw 저장
Tagger · 태거
AI의 눈이 달라집니다.
AI 최적화 메타데이터 플랫폼.
| 머신비전 트리거 분배·체배·생성 통합 솔루션 — ETIO (FPGA 8ch, 지터 100ns 미만) (0) | 2026.04.28 |
|---|---|
| [3D 트리거분배기] SCP3D [PC,모바일] (0) | 2026.04.28 |
| 머신비전 카메라·조명 동기 제어기 — NSync (엔코더 연동, 조명 열화감지) (0) | 2026.04.28 |
| 산업용 신호 데이터 로거 — Signal Scope (10ns 샘플링, 20ch 동시 캡처, FPGA) (0) | 2026.04.28 |
| [전제품] 라인업 확인하기 [PC, 모바일용] (0) | 2026.04.28 |